深圳云緯科技有限公司是一家先進的檢測分析儀器設備供應商，專業為客戶提供最全面的，最先進的顯微光譜分析檢測儀器設備。我們是專業技術型的貿易企業，一致致力于材料科學，地質研究，生物科學及制藥，刑偵和工業檢測等領域。

我公司與美國CRAIC公司一起攜手，為國內微區光譜科研貢獻最先進的微區光譜解決方案，美國CRAIC顯微分光光度計在全球各大研究室使用普遍，其先進的測量技術、高度集成的系統及穩定性深受高新技術海歸人才及國內高端科研人才的認可和親睞。

 
關于美國CRAIC全光譜顯微分光光度計

美國CRAIC最新20/30PV顯微光譜分析集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準。使用最前沿技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發或其他光源類型下的光譜，還同時提供了數字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分光光度計系統，結合了顯微學和光譜學的優勢，用于微小樣品或樣品的微小區域的光譜分析；微區光譜測試的范圍從深紫外到近紅外，同時也提供全波段的成像。具備先進的光譜及圖像分析軟件、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作等優良特性。

	最新CRAIC 20/30 PV集成了紫外－可見－近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、成像系統于一身，根據產品不同，可以做紫外可見近紅外（200-2500nm）的光譜分析，還可以集成顯微Raman系統，同時科研級光譜儀和高分辨彩色數字成像系統都使用了最新的顯微鏡光路系統及科研級光學接口。 高靈敏度的固態陣列檢測器件使用了熱電制冷的方式提高了器件的信噪比，增強穩定性,并保證設備能長時間穩定地工作；高分辨率的數字成像系統在用于紫外、近紅外以及可見光波段的彩色成像。多種類型的光源包提供了從深紫外到近紅外的光源，類型包括透射光、反射光、熒光等，偏振光和拉曼激光也可以根據用戶需求提供。CRAIC精巧的軟件不僅可以控制顯微鏡、光譜儀和數字成像系統，還同時提供了先進分析功能，甚至包括薄膜厚度測量及色度測量。CRAIC公司推出最新的操作系統，應用軟件使用簡單，操作方便。
20/30PV系列為顯微觀測、材料科學、地質科學、生物科學及制藥、表面等離子共振，法醫痕跡鑒證，石墨烯及納米管等領域提供完美的顯微光譜分析方案，20/30 PV是顯微分光光度計最頂尖的代表。

508PV可以通過開放光學接口安裝到任意顯微鏡或者探測平臺上，從而讓您獲得光譜測量及圖像處理能力，甚至是視頻及動態光譜測試。根據顯微鏡的配置，您可以完成顯微樣品的吸收、透射反射、偏振、甚至是熒光激發的光譜。CRAIC同樣也提供適應于光譜儀的顯微鏡，可以提供更寬的光譜范圍、更強信噪比及出眾 成像數據508PV 還可用于升級舊的顯微光度計，用508PV取代舊的光譜儀，電子部件，軟件和計算機系統。508PV提供了專門用于顯微光譜測試的光譜儀，使用TE制冷技術保證長時間穩定的工作和極低的噪聲水平。科研級的光學接口連接顯微鏡通用C接口適配器，集成光譜分析，圖像分析及儀器控制的軟件。整個儀器穩定可靠，簡單易用，科學設計保證客戶無故障使用數年。目前CRAIC系列分光光度計已用于煤炭，石油，地質，礦物學，生物學，半導體科學，材料科學，工業質量控制及刑事科學等。

深圳云緯科技有限公司 /  Shenzhen Yunway Tech Co.ltd
深圳市龍崗區天安云谷產業園一期B棟

聯系人：
龍經理   電話：13534092818
郵箱：Yunway@Cloudsway.net.cn